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Halbleitertester von Thermo Fisher Scientific
ESD-Tester - Manuell
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Modell |
Pinanzahl |
Prüfverfahren |
Bermerkung
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Pegasus
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2
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HMM
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• Manuell - Kein PC
nötig
• HBM-Test bist 12 kV
• Normenkonforme HMM-Tests gemäß IEC 61000-4-2
• max. 5 Bauteil-Stromversorgungen |
ESD-/Latch-Up-Tester - Automatisch
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Modell |
Pinanzahl |
Prüfverfahren |
Bermerkung
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ZapMaster MK.1 |
64 - 256 |
HBM
MM
Latch-Up (statisch) |
• Automatisch
• HBM-Tests von 50 V bis 8 kV in 1 V-Schritten programmierbar
• MM-Tests von 50 V bis 2 kV in 1 V-Schritten programmierbar
• bis zu 6 Bauteilversorgungen
• gleichzeitiger Test mehrer Bauteile
• Alle ZapMaster-Test-Fixtures sind mit 256 Pins sowie Verifier-Test-Fixtures verwendbar |
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ZapMaster MK.2 |
128 -
768 |
HBM
MM
Latch-Up |
• Automatisch
• HBM-Tests von 50 V bis 8 kV in 1 V-Schritten programmierbar
• MM-Tests von 50 V bis 2 kV in 1 V-Schritten programmierbar
• bis zu 6 Bauteilversorgungen
• gleichzeitiger Test mehrer Bauteile
• Alle ZapMaster-Test-Fixtures sind mit 256 Pins sowie Verifier-Test-Fixtures verwendbar |
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ZapMaster MK.4 |
1152
1728
2304 |
HBM
MM
Latch-Up |
• Automatisch
• HBM-Tests von 50 V bis 8 kV
• MM-Tests von 25 V bis 2 kV
• 256k Vektoren pro Pin in Rücklesefunktion bis 10 MHz
• bis zu 8 Bauteilversorgungen (4 Quadranten)
• gleichzeitiger Test mehrer Bauteile |
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Orion
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DUT-Abmes-sungen: 10,2 cm x 10,2 cm
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CDM
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• Automatisch
• DUT-Überwachung auf PC-Monitor
• Test bis 1kV, optional 2kV |
TLP-/ ESD-Tester
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Modell |
Pinanzahl |
Prüfverfahren |
Bermerkung |
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Celestron |
1 Port |
TLP
HBM
MM
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• TLP-Testsystem
• TDR, TDR-O, TDR-S, TDT, TDRT, 500 Ohm Stromquelle
• Pulsbreiten 1,2 bis 10 ns
• Anstiegszeiten 100 ps bis 2 ns
• Ströme in 50 ohm 10 A
• VF-TLP (optional)
• HBM bis 4 kV (optional)
• MM bis 400 V (optional) |
| Erläuterungen |
| HBM |
Human Body Model, Simulation der Entladung eines Menschen in ein Bauteil |
| MM |
Machine Model, Simulation der Entladung eines leitenden Gerätes in ein Bauteil |
| CDM |
Charged Device Model, Entladung eines Bauteils nach Masse ohne sonstige Kontaktierung des Bauteils |
| TLP |
Transmission Line Pulsing |
| Latch-Up |
Zündung eines parasitären Thyristors in IC-Strukturen durch Spannungs- oder Strompulse |
| DUT |
Device Under Test, zu prüfendes Bauteil |
| Curve Tracing |
Messung der Eingangskennlinien der Bauteilepins |
| Vectoring |
Anlegen von digitalen Signalfolgen an Eingangspins, um ein Bauteil in einen definierten Zustand zu versetzen |
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